本系列可程式高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用於測(cè)試材料對(duì)極高溫或極低溫的抵抗力，這種情況類似於不連續(xù)地處?kù)陡邷鼗虻蜏刂械那樾危錈嵝n擊試驗(yàn)?zāi)苁垢鞣N物品在最短的時(shí)間內(nèi)完成測(cè)試。熱震中產(chǎn)生的變化或物理傷害是熱脹冷縮改變或其他物理性值的改變而引起的，採(cǎi)用PID系統(tǒng)，各類產(chǎn)品才能獲得*之信賴。熱震的效果包括成品裂開或破層及位移等所引起的電化學(xué)變化，PID系統(tǒng)的全數(shù)位元自動(dòng)控制，將使您操作簡(jiǎn)易。
 

       高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛用於電子電器零元件、自動(dòng)化零部件、通訊元件

 

　　汽車 配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航太、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳
 

　　電子晶片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉
 

　　力及產(chǎn)品於熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械
 

　　的元件，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。
 

　　符合標(biāo)準(zhǔn)
 

　　GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);
 

　　GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn);
 

　　SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱--一箱式;
 

　　SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱--二箱式;
 

　　滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化;
 

　　GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則;
 

　　GB/T 2423.22-2002溫度變化;